Zoeken

U zocht naar: Auteur Awasthi, Kumud Kant. Filter Auteur: Awasthi, Kumud Kant. weghalen Fulltext online Filter Fulltext: online weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Friction Ridge Analysis : Applications of Nanoparticles for Latent Fingerprint Development
thumbnail
Full text!
Auteur:
Awasthi, Kumud Kant.; Lukose, Sally; Parihar, Kapil; Sankhla, Mahipal Singh
Uitgever:
Singapore Springer 2023
Type:
e-book