bib.howest.be Zoekresultaten

U zocht naar: Auteur B. R.

« Vorige | 171 - 180 van 302 | Volgende »

171. Radiation Oncology Study Guide

Auteur:: Chandra; Hansen, Eric K.; Ord, Celine B.; Rana, Shushan; Thomas, Charles R., Jr.; Thomas, Jr., Charles R.
Uitgever:: Springer International Publishing 2021
Type:: e-book

172. Andrology for the Clinician

Auteur:: Schill, Wolf-Bernhard; Comhaire, Frank; Comhaitre, F. H.; Hargreave, T. B.; Hargreave, Timothy B.; Schill, W. -B; Comhaire, Frank H.; Mieusset, R; Mieusset, Roger
Uitgever:: 2008
Type:: e-book

173. The Block Cipher Companion

Auteur:: Knudsen, Lars R.; Robshaw, Matthew J.B; Robshaw, Matt J. B.; Robshaw, Matthew
Uitgever:: Springer Berlin Heidelberg 2011
Type:: e-book

174. Auditory Development and Plasticity

Auteur:: Cramer, Karina S.; Coffin, Allison B.; Fay, Richard R.; Popper, Arthur N.
Uitgever:: Springer International Publishing 2017
Type:: e-book

175. Deadly Dermatologic Diseases

Auteur:: Morgan, Michael B.; Smoller, Bruce R.; Somach, Stephen C.; Everett, M. A.
Uitgever:: Springer New York 2007
Type:: e-book

176. Emerging Trends in Expert Applications and Security : Proceedings of 2nd ICETEAS 2023, Volume 1

Auteur:: Rathore, Vijay Singh.; Piuri, Vincenzo; Surendiran, B.; Tavares, João Manuel R. S.
Uitgever:: Singapore Springer 2023
Type:: e-book

177. Enhancing police integrity

Auteur:: Klockars, Carl B.; Kutnjak Ivkovic, Sanja; Haberfeld, M. R.; Kutnjak Ivkovich, Sanja
Uitgever:: Washington, D.C. (810 Seventh St., N.W., Washington 20531) Springer New York 2007
Type:: e-book

178. Identifying, Assessing, and Treating PTSD at School

Auteur:: Nickerson, Amanda B.; Brock, Stephen E.; Jimerson, Shane R.; Reeves, Melissa A.
Uitgever:: Springer US 2009
Type:: e-book

179. Limnogeology: Progress, Challenges and Opportunities

Auteur:: Michael R. Rosen; Finkelstein, David B.; Park Boush, Lisa; Pla-Pueyo, Sila
Uitgever:: Springer International Publishing 2021
Type:: e-book

180. Public Policy in an Entrepreneurial Economy

Auteur:: Acs, Zoltan J.; Audretsch, David B.; Stough, Roger R.; Ács, Zoltán J.
Uitgever:: Springer New York 2008
Type:: e-book