Toggle navigation
bib.howest.be
Iets gevonden in een andere bib?
Databanken
Contact & Openingsuren
EN
NL
Gericht zoeken
Alle velden
Titel
Auteur
Onderwerp
naar
Zoeken...
Zoeken
Toggle facets
Beperk de zoekresultaten
Type
e-book
3,684
boek
173
eindwerk
1
Fulltext
online
3,684
print
174
Jaar
2023
1
2022
2
2021
2
2020
1
2019
2
2018
2
2017
4
2016
2
2015
2
2014
6
2013
4
2012
10
2011
5
2010
7
2009
2
2008
10
2007
6
2006
8
2005
9
2004
6
2003
9
2002
7
2001
5
2000
3
1999
6
1998
2
1997
4
1996
3
1995
3
1994
3
1993
5
1992
3
1991
1
1990
4
1988
2
1987
2
1986
1
1985
2
1983
1
1980
2
1979
1
1978
1
1973
1
1968
1
1964
1
1963
1
1961
1
1958
1
1956
1
1925
2
Taal
Engels
3,615
Nederlands
172
Duits
23
Frans
18
Italiaans
15
Meerdere talen
5
Onbepaald
3
Spaans
2
Afrikaans
1
Chinees
1
Fins
1
Portugees
1
Vietnamees
1
Bibliotheek
SJS
88
PENTA
78
Confucius Sint-Jorisstraat Brugge
11
Rijselstraat Brugge
2
Zoeken
U zocht naar:
Auteur
P.
Filter Auteur: P. weghalen
« Vorige
|
2,301
-
2,310
van
3,858
|
Volgende »
Sorteer op relevantie
relevantie
jaar
auteur
titel
Aantal zoekresultaten per pagina
10 per pagina
10
per pagina
20
per pagina
50
per pagina
100
per pagina
200
per pagina
Zoekresultaten
2301.
IUTAM Symposium on Progress in the Theory and Numerics of Configurational Mechanics
Full text!
Auteur:
Gladwell, G. M. L.; Moreau, R.; Steinmann, Paul; Steinmann, P.
Uitgever:
Springer Netherlands 2009
Type:
e-book
2302.
Learning What to Ignore
Full text!
Auteur:
Ruairc, G. Mac; Ottesen, E.; Pritscher, Conrad P.; Precey, R.
Uitgever:
Brill / Sense 2013
Type:
e-book
2303.
Magnetic Microscopy of Nanostructures
Full text!
Auteur:
H. Hopster; Hopster, Herbert; Oepen, H. P.; Oepen, Hans Peter
Uitgever:
Springer Berlin Heidelberg 2005
Type:
e-book
2304.
Mathematical Analysis I: Approximation Theory: ICRAPAM 2018, New Delhi, India, October 23–25
Full text!
Auteur:
Deo, Naokant; Acu, Ana Maria; Agrawal, P. N.; Gupta, Vijay
Uitgever:
Springer Singapore 2020
Type:
e-book
2305.
Maximum Penalized Likelihood Estimation
Full text!
Auteur:
Eggermont, Paulus Petrus Bernardus; Eggermont, Paul P.; LaRiccia, Vincent N.
Uitgever:
Springer New York 2009
Type:
e-book
2306.
Measurement, Modelling, and Evaluation of Computing Systems and Dependability and Fault Tolerance
Full text!
Auteur:
Müller-Clostermann, Bruno; Echtle, Klaus; Kanade, Takeo; Rathgeb, Erwin P.
Uitgever:
Springer Berlin Heidelberg 2010
Type:
e-book
2307.
Melanocytic Lesions
Full text!
Auteur:
Hoang, Mai P.; Mihm, Martin C.; Mihm Jr., Martin C.
Uitgever:
Springer New York 2014
Type:
e-book
2308.
Memory T Cells
Full text!
Auteur:
Back, Nathan; Cohen, Irun R.; Schoenberger, Stephen P.; Zanetti, Maurizio
Uitgever:
Springer New York 2010
Type:
e-book
2309.
Metamaterials and Plasmonics: Fundamentals, Modelling, Applications
Full text!
Auteur:
Zouhdi, Saïd; Sihvola, Ari; Vinogradov, Alexey P.; Sihvola, A. H.
Uitgever:
Springer Netherlands 2009
Type:
e-book
2310.
Metaphysics Through Semantics : Essays in Honor of Gyula Klima
Full text!
Auteur:
Hochschild, Joshua P.; Borbély, Gábor; Nevitt, Turner C.; Wood, Adam
Uitgever:
Cham Springer International Publishing AG 2023
Type:
e-book
« Vorige
Volgende »
1
2
…
227
228
229
230
231
232
233
234
235
…
385
386