Zoeken

U zocht naar: Auteur Ikura, Yumihiko Filter Auteur: Ikura, Yumihiko weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Principal Component Analysis and Randomness Test for Big Data Analysis : Practical Applications of RMT-Based Technique
thumbnail
Full text!
Auteur:
Tanaka-Yamawaki, Mieko.; Ikura, Yumihiko
Uitgever:
Singapore Springer Singapore Pte. Limited 2023
Type:
e-book