Materialklassifikation in optischen Inspektionssystemen mithilfe hyperspektraler Daten

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Michelsburg, Matthias. Materialklassifikation In Optischen Inspektionssystemen Mithilfe Hyperspektraler Daten. KIT Scientific Publishing, .

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Michelsburg, M. Materialklassifikation in optischen Inspektionssystemen mithilfe hyperspektraler Daten. KIT Scientific Publishing.

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Michelsburg, Matthias Materialklassifikation In Optischen Inspektionssystemen Mithilfe Hyperspektraler Daten. : KIT Scientific Publishing.