Zoeken

U zocht naar: Auteur De Ridder, James Filter Auteur: De Ridder, James weghalen Fulltext online Filter Fulltext: online weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
thumbnail
Full text!
Auteur:
Yeung, Dit-Yan; International Association for Pattern Recognition.; Fred, Ana; Kanade, Takeo; Kwok, James T.; Ridder, Dick; Roli, Fabio; de Ridder, Dick
Uitgever:
Springer Berlin / Heidelberg 2006
Type:
e-book