Zoeken

U zocht naar: Auteur Kim, Chung-Youb Filter Auteur: Kim, Chung-Youb weghalen Taal Engels Filter Taal: Engels weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Expert System for Fatigue Crack Growth Predictions Based on Fatigue Crack Closure
thumbnail
Full text!
Auteur:
Ji-Ho Song, Chung-Youb Kim; Kim, Chung-Youb
Uitgever:
Springer 2022
Type:
e-book