Zoeken

U zocht naar: Auteur Krzyzak, Adam. Filter Auteur: Krzyzak, Adam. weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition : Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2022, Montreal, QC, Canada, August 26-27, 2022, Proceedings
thumbnail
Full text!
Auteur:
Krzyzak, Adam.; Nobile, Nicola; Suen, Ching Y.; Torsello, Andrea
Uitgever:
Cham Springer International Publishing AG 2023
Type:
e-book