Zoeken

U zocht naar: Auteur Last, Mark Filter Auteur: Last, Mark weghalen
1 - 4 van 4
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Applied Pattern Recognition
thumbnail
Full text!
Auteur:
Bunke, Horst; Kandel, Abraham; Last, Mark
Uitgever:
Springer Berlin Heidelberg 2008
Type:
e-book
2. Applied Graph Theory in Computer Vision and Pattern Recognition
thumbnail
Full text!
Auteur:
Kandel, Abraham; Bunke, Horst; Kacprzyk, Janusz; Last, Mark
Uitgever:
Springer Berlin Heidelberg 2007
Type:
e-book
3. Advances in Web Intelligence and Data Mining
thumbnail
Full text!
Auteur:
Last, Mark; Kandel, Abraham; Szczepaniak, Piotr S.; Volkovich, Zeev
Uitgever:
Springer Berlin / Heidelberg 2006
Type:
e-book
4. Fuzzy Mathematical Analysis and Advances in Computational Mathematics
thumbnail
Full text!
Auteur:
Kannan, S. R.; Chen, Chun-Hao; Hong, Tzung-Pei; Last, Mark
Uitgever:
Singapore Springer Singapore Pte. Limited 2022
Type:
e-book