Zoeken

U zocht naar: Auteur Shen, Ruijing Filter Auteur: Shen, Ruijing weghalen Fulltext online Filter Fulltext: online weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
thumbnail
Full text!
Auteur:
Shen, Ruijing; Tan, Sheldon X. -D; Yu, Hao
Uitgever:
Springer US 2012
Type:
e-book