Zoeken

U zocht naar: Auteur Tudu, Jaynarayan Filter Auteur: Tudu, Jaynarayan weghalen Type e-book Filter Type: e-book weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. VLSI Design and Test : 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers
thumbnail
Full text!
Auteur:
Shah, Ambika Prasad.; Darji, Anand; Dasgupta, Sudeb; Tudu, Jaynarayan
Uitgever:
Cham Springer 2023
Type:
e-book