Charged Semiconductor Defects

Full text!
Type:
e-book
Titel:
Charged Semiconductor Defects
Auteur:
Seebauer, Edmund Gerard; Kratzer, Meredith C.; Seebauer, Edmund G.
Taal:
Engels
Uitgever:
Springer London 2009
ISBN:
1-84882-058-5
1-84996-820-9
9786611876142
1-281-87614-3
1-84882-059-3
Permalink:
http://bibtest.howest.be/catalog/ebk03:1000000000546466