Atom Probe Microscopy

Full text!
Type:
e-book
Titel:
Atom Probe Microscopy
Auteur:
Gault, Baptiste; Moody, Michael P.; Cairney, Julie M.; Ringer, Simon P.
Taal:
Engels
Uitgever:
Springer New York 2012
ISBN:
1-4614-3435-1
1-4899-8939-0
1-283-61163-5
9786613924087
1-4614-3436-X
Permalink:
http://bibtest.howest.be/catalog/ebk03:2670000000245838