Zoeken

U zocht naar: Auteur Kaczer, Ben Filter Auteur: Kaczer, Ben weghalen Taal Engels Filter Taal: Engels weghalen
1 Item gevonden
Aantal zoekresultaten per pagina

Zoekresultaten

1. Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
thumbnail
Full text!
Auteur:
Franco, Jacopo; Kaczer, Ben; Groeseneken, Guido
Uitgever:
Springer Netherlands 2014
Type:
e-book