bib.howest.be Zoekresultaten

U zocht naar: Fulltext online

« Vorige | 254,801 - 254,810 van 261,731 | Volgende »

254801. VLSI, Communication and Signal Processing : Select Proceedings of the 5th International Conference, VCAS 2022

Auteur:: Nagaria, R. K.; Prajapati, Yogendra Kumar; Tripathi, V. S; Zamarreno, Carlos Ruiz
Uitgever:: Singapore Springer 2023
Type:: e-book

254802. VLSI Design

Auteur:: Chandrasetty, Vikram Arkalgud; Chanasetty, Vikram Arkalgud
Uitgever:: Springer New York 2011
Type:: e-book

254803. VLSI Design

Auteur:: Tlelo-Cuautle, Esteban
Uitgever:: InTech
Type:: e-book

254804. VLSI Design and Test

Auteur:: Rajaram; Balamurugan, N. B.; Gracia Nirmala Rani, D.; Singh, Virendra
Uitgever:: Springer Singapore 2019
Type:: e-book

254805. VLSI Design and Test

Auteur:: Sengupta; Dasgupta, Sudeb; Kumar Vishvakarma, Santosh; Sharma, Rohit; Singh, Virendra
Uitgever:: Springer Singapore 2019
Type:: e-book

254806. VLSI Design and Test

Auteur:: Gaur, Singh Manoj; Zwolinski, Mark; Laxmi, Vijay; Boolchandani, D. ; Sing, Virendra ; Singh, Adit; Boolchandani, D.; Gaur, Manoj Singh; Laxmi, Vijay; Sing, Virendra; Singh, Adit
Uitgever:: Springer Berlin Heidelberg 2013
Type:: e-book

254807. VLSI Design and Test

Auteur:: Kaushik; Dasgupta, Sudeb; Singh, Virendra
Uitgever:: Springer Singapore 2017
Type:: e-book

254808. VLSI Design and Test : 26th International Symposium, VDAT 2022, Jammu, India, July 17-19, 2022, Revised Selected Papers

Auteur:: Shah, Ambika Prasad.; Darji, Anand; Dasgupta, Sudeb; Tudu, Jaynarayan
Uitgever:: Cham Springer 2023
Type:: e-book

254809. VLSI Design and Test for Systems Dependability

Auteur:: Asai, Shojiro
Uitgever:: Springer Japan 2019
Type:: e-book

254810. VLSI Design: Circuits, Systems and Applications

Auteur:: Li, Jie; Beulet, P. Augusta Sophy; Sankar, A. Ravi
Uitgever:: Springer Singapore 2018
Type:: e-book